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          电压击穿试验仪,电阻率测试仪,介电常数测试仪,漏电起痕试验仪,耐电弧试验仪、介电温谱测量系统、热刺激电流测量系统
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          新款GCSTD系列工频介电常测量仪

          新款GCSTD系列工频介电常测量仪

          • 产品型号:
          • 更新时间:2021-12-15
          • 产品介绍:新款GCSTD系列工频介电常测量仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强, 测试时间短等优点。
          • 在线留言 010-57223838

          产品介绍

          产品概述

          本仪器是一种*的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强, 测试时间短等优点。

          本测试仪采用变频电源技术,利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算,达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能。



          性能特点

          1、仪器测量准确度高,可满足油介损测量要求,因此只需配备标准油杯,和测试线即可实现油介损测量。

          2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰,即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。

          3、过流保护功能,在试品短路或击穿时仪器不受损坏。

          4、内附标准电容和高压电源,便于现场测试,减少现场接线。

                5、仪器采用大屏幕液晶显示器,测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。


          固体绝缘材料

          试样的几何形状

          测定材料的电容率和介质损耗因数,*采用板状试样,也可采用管状试样。


          在测定电容率需要较高精度时,*的误差来自试样尺寸的误差,尤其是试样厚度的误差,因此厚 度应足够大,以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。 对1%的精确度来讲,1. 5 mm的厚度就足够了,但是对于更高精确度,*是采用较厚的试样,例如 6 mm?12 mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上,且厚度均匀度在± 1 %内。 如果材料的密度是已知的,则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样 电容。测量10 pF的电容时,使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1 pF,因此 试样应薄些,直径为10 cm或更大些。

          需要测低损耗因数值时,很重要的一点是导线串联电阻引入的损耗要尽可能地小,即被测电容和该 电阻的乘积要尽可能小。同样,被测电容对总电容的比值要尽可能地大。*点表示导线电阻要尽可 能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小,且试样电容要大,因此试样电 容*取值为20 pF,在测量回路中,与试样并联的电容不应大于约5 pF0

          电极系统

          加到试样上的电极

          电极可选用5. L3中任意一种。如果不用保护环,而且试样上下的两个电极难以对齐时,其中一个 电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间,这两个金属电极要比试 样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算 的经验公式由表1给出。

          对于介质损耗因数的测量,这种类型的电极在高频下不能满足要求,除非试样的表面和金属板都非 常平整,图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀’







           新款GCSTD系列工频介电常测量仪

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