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          电压击穿试验仪,电阻率测试仪,介电常数测试仪,漏电起痕试验仪,耐电弧试验仪、介电温谱测量系统、热刺激电流测量系统
          拨号13581986832

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          高频介电常数测试仪参数

          高频介电常数测试仪参数

          • 产品型号:GCSTD-B
          • 更新时间:2022-04-20
          • 产品介绍:新款GCSTD系列高频介电常数测试仪参数的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。
          • 在线留言 010-57223838

          产品介绍


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          介电常数测试仪及介质损耗测试仪




          主要用途:

          主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)

          应用对象:

          该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究


          电极规格

          固体:材料测量直径Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm

          液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

          粉体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

          试样要求:固体样品厚度要求:0.5-15MM


          测量方法?可采用直接测量法和替代法两种。当采用直接测量法时,必须消除连接线和试样实具等分布参数?的影响。?测量电路的分布参数可用图4表示,图中Ls、Rs为与试样串联的连接线、夹具等的等效电感及?电阻,Cp、RP为与试样并联的连接线、夹具等的等效电容及电阻。当Ls、Rs很小,且可忽略时,?或当CP



          技术指标:

          功能名称:

          GCSTD-A

          GCSTD-AI

          GCSTD-B








          信号源范围DDS数字合成信号

          10KHZ-70MHz

          10KHZ-110MHz


          100KHZ-160MHz








          7000:1

          11000:1










          信号源频率精度 6位有效数

          3×10-5 ±1个字

          3×10-5 ±1个字

          3×10-5 ±1个字








          1-1000自动/手动量程

          1-1000自动/手动量程










          4位有效数,分辨率0.1

          4位有效数,分辨率0.1










          <5%

          <5%










          4位有效数,分辨率0.1nH

          1nH-8.4H 1nH-140m电感测量误差

          <5%

          调谐电容

          0p主电容30-54F

          -24F调谐电容误差


          或<1%

          0.1pF±1 pF

          或<1%

          0.1pF谐振点搜索Q合格预置范围















          LCD显示参数

          FLCQ,Lt,Ct波段等

          FLCQ,Lt,Ct波段等

          FLCQ,Lt,Ct波段等








          自身残余电感和测试引线电感的
          自动扣除功能








          大电容值直接测量显示功能

          测量值可达2.5uF

          测量值可达2.5uF

          测量值可达25nF








          介质损耗系数

          精度 万分之五

          精度 万分之五

          精度 万分之五









          新款GCSTD系列高频介电常数测试仪参数

          新款GCSTD系列高频介电常数测试仪参数

          介电常数测试仪及介质损耗测试仪

          主要用途:

          主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)

          应用对象:

          该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究


          电极规格

          固体:材料测量直径Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm

          液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

          粉体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

          试样要求:固体样品厚度要求:0.5-15MM


          测量方法?可采用直接测量法和替代法两种。当采用直接测量法时,必须消除连接线和试样实具等分布参数?的影响。?测量电路的分布参数可用图4表示,图中Ls、Rs为与试样串联的连接线、夹具等的等效电感及?电阻,Cp、RP为与试样并联的连接线、夹具等的等效电容及电阻。当Ls、Rs很小,且可忽略时,?或当CP



          技术指标:

          功能名称:

          GCSTD-A

          GCSTD-AI

          GCSTD-B








          信号源范围DDS数字合成信号

          10KHZ-70MHz

          10KHZ-110MHz


          100KHZ-160MHz








          7000:1

          11000:1










          信号源频率精度 6位有效数

          3×10-5 ±1个字

          3×10-5 ±1个字

          3×10-5 ±1个字








          1-1000自动/手动量程

          1-1000自动/手动量程










          4位有效数,分辨率0.1

          4位有效数,分辨率0.1










          <5%

          <5%










          4位有效数,分辨率0.1nH

          1nH-8.4H 1nH-140m电感测量误差

          <5%

          调谐电容

          0p主电容30-54F

          -24F调谐电容误差


          或<1%

          0.1pF±1 pF

          或<1%

          0.1pF谐振点搜索Q合格预置范围















          LCD显示参数

          FLCQ,Lt,Ct波段等

          FLCQ,Lt,Ct波段等

          FLCQ,Lt,Ct波段等








          自身残余电感和测试引线电感的
          自动扣除功能








          大电容值直接测量显示功能

          测量值可达2.5uF

          测量值可达2.5uF

          测量值可达25nF








          介质损耗系数

          精度 万分之五

          精度 万分之五

          精度 万分之五










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