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新款GCSTD系列高频相对介电常数测量仪
- 产品型号:
- 更新时间:2021-12-15
- 产品介绍:新款GCSTD系列高频相对介电常数测量仪的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。
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产品介绍
介电常数测试仪及介质损耗测试仪
主要用途:
主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)
方法概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至*低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
当需要预热试样时,在倒出足够的样品用作其他试验时,应尽可能将余下的样品在原来的样品容器?里预热,此时,应考虑液体的热膨胀而留有足够的空间,以避免容器破裂。?当试样必须移到其他容器内时,这些容器应是带盖烧杯或带塞子的锥形玻璃烧瓶,并按第7章要求?进行清洗。?如果必须在室温下进行试验,则应将原来样品容器放在将要进行试验的室内,直至样品达到室温。?当需在高温下进行试验而试样又不能在试验池内加热时,试样容器或辅助的容器要用塞子塞住,并保证?在此容器内有合适的体积足以满足液体的热膨胀,在烘箱里把它加热到高于要求的试验温度?5'C—10,Co?由于液体易氧化,因此加热时间应不超过1丄?若必须在一个单独的烘箱内加热液体,为防止污染影响,*保证一个烘箱只用于一种类型的?液体。?为了取到有代表性的试样,在取样之前,应将容器倾斜并缓慢地旋转液体几次,以使试样均匀。?用干净的无绒布擦洗容器口,并倒出一部分液体样品擦洗容器的外表面。
?条件处理及试验池充填试样
试验池的条件处理?在洗净并干燥完电极后,注意不要用裸手接触它们的表面,也应注意放置试验池部件的表面要很清?洁,试验池上面不要有水蒸汽或灰尘。?为了使试验池的清洗程序对随后试验的影响减到*小,很重要的一点是要对干燥清洁的试验池进?行预处理,即用下次的被试液体充满试验池两次。对于高粘度液体,可能需要更长时间的预处理=?10试验池充填试样?用一部分液体试样刷洗试验池三次,然后倒出并倒掉液体。在刷洗试验池时,若需要取岀内电极,?应注意防止在任何表面剩留液体,并防止尘粒聚集在试验池的浸液表面。?重新充满试样,注意防止夹带气泡。将装有试样的试验池加热到所需试验温度,每个试验温度所需?的时间取决于加热方法,通常可能在10 min?60 min范围。在达到所需试验温度的士 1C时,10 min内?必须开始测试。?应特别注意防止液体或试验池的各部件与任何污染源相接触。?在一种液体内不呈活性的杂质可能在另一种液体内会因杂质的迁移而呈现活性,因此*限制一?试验池只用于一种类型的液体。?应尽可能地保证周围大气中不存在影响液体质量的水蒸汽或气体。
?试验温度?这些试验方法适合于在一个很宽的温度范围内试验绝缘液体,除非在特定液体的规范中另有规定,?一般试验应在90C下进行。?测量温度的分辨率应在0. 25-C以内。
?介质损耗因数(tand)的测量
1试验电压?通常釆用频率40 Hz?62 Hz的正弦电压。施加交流电压的大小视被试液体而定,推荐电场强度?为 0. 03 kV/mm?1 kV/mmo?注:通常在上述频率范围内,可用下列公式从一个频率的结果换算成另一个频率的对应值:
产品配置:
1、测试主机:一台
2、测试电感:9个
3、测试夹具:1套(标配固体测试夹具一套)
其它规格:
1、 环境温度:0℃~+40℃;
2、相对湿度:<80%;
3、电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
4、消耗功率:约25W;
5、净重:约7kg;
6、外型尺寸:(长宽高):380×280×132(mm)
新款GCSTD系列高频相对介电常数测量仪
新款GCSTD系列高频相对介电常数测量仪