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          电压击穿试验仪,电阻率测试仪,介电常数测试仪,漏电起痕试验仪,耐电弧试验仪、介电温谱测量系统、热刺激电流测量系统
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          新款GCSTD系列 土壤介电常数测定仪

          新款GCSTD系列 土壤介电常数测定仪

          • 产品型号:GCSTD-D
          • 更新时间:2020-03-20
          • 产品介绍:新款GCSTD系列 土壤介电常数测定仪满足标准:
            GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
            GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
            ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
          • 在线留言 010-57223838

          产品介绍

          精度要求

          在第5章和附录 A中所规定的精度是:电容率精度为士1%,介质损耗因数的精度为士(5%士0.0005)。这些精度至少取决于三个因素:即电容和介质损耗因数的实测精度;所用电极装置引起的这些量的校正精度;极间法向真空电容的计算精度(见表 1).在较低频率下,电容的测量精度能达士(0.1%士。02pF),介质损耗因数的测量精度能达士(2%士0.00005)。在较高频率下,其误差增大,电容的测量精度为士(0.5%士0. 1pF),介质损耗因数的测量精度为士(2%土。.0002).

          对于带有保护电极的试样,其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几,而校正只能计算到其本身值的百分之几。如果试样厚度的测量能精确士。.005mm,则对平均厚度为 1. 6mm的试样,其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到士0.1%的精度,但它是以平方的形式引人误差的,综合这些因素,极间法向真空电容的测量误差为10.5%e

          对表面加有电极的试样的电容,若采用测微计电极测量时,只要试样直径比测微计电极足够小,则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时,边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差,因为它们的误差都可达到试样电容的2%-40%。根据目前有关这些电容资料,计算边缘电容的误差为 10%,计算对地电容的误差为25 。因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时,对地电容误差可大大减小。

          采用测微计电极时,数量级是。.03的介质损耗因数可测到真值的士0.0003,数量级0.0002的介质损耗因数可测到真值的士。.00005。介质损耗因数的范围通常是。.0001-0.1,但也可扩展到。.1以上。频率在10MH:和20MHz之间时,有可能检测出。.00002的介质损耗因数。1-5的相对电容率可测到其真值的士20o,该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制,也受到测微计电极系统误差的限制

           

          简要介绍

          测试材料:

          无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

          半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

          其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

          介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

          磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

          半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

          液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

           

           

           

           

          新款GCSTD系列 土壤介电常数测定仪

          新款GCSTD系列 土壤介电常数测定仪

           

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